我們日常生活中，很（hěn）多生活物品都經過鍍膜機鍍上了一層膜層（céng），讓（ràng）產品不僅變得更美觀，也更實用。但是很多人會（huì）有一個疑問（wèn），那既然是鍍了一層膜層（céng），薄（báo）膜肯定是（shì）有厚度大小的，那麽薄膜厚度具體多厚呢，以及怎（zěn）麽（me）去（qù）測量（liàng）？

       薄膜必須沉積（jī）在基底之上（shàng）， 所以離開了基片也就無從談薄（báo）膜沉積的問題。基片的清（qīng）洗（xǐ）好壞又對薄膜的質最有極共重要的影響。同時在薄（báo）膜的（de）製作中還必須知道薄（báo）膜的厚度，脫離了薄膜的厚度來談薄膜性質的測最也是亳無意（yì）義的。 所以， 膜厚的測量和基片的清洗可以說是和薄膜製作相關的重要技術。一般（bān）所謂的厚度是指兩（liǎng）個完全平整的平行平麵之（zhī）間的距離，這個概念是一個幾何概念。

        理想的薄膜厚度是指基（jī）片表麵和薄膜表麵之間的距（jù）離。在（zài）薄膜形貌的三維度量中，相對於薄膜的厚度來講，其他兩維的度量可以說是（shì）無窮大。由於實際上存在的表麵是不平整和不連（lián）續的，而且薄膜的內（nèi）部還可能存在著氣孔、雜質、晶格缺陷和（hé）表麵（miàn）吸（xī）附分子等等，所有要嚴格地定（dìng）義和精確地測量薄膜的（de）厚度實際上是很困難的。

        膜厚的定義位當根據測址的方法和測址的目的決（jué）定。 因（yīn）此，同一個薄（báo）膜，使用不同的（de）測（cè）量方法會得到不同的結果， 即不同的厚度。

        在薄膜油測量中的表麵並不是一個（gè）幾何（hé）的概念（niàn），而是一個 物埋概念，是指表麵分子（原子）的集合。 平均表麵是指表麵原子所有（yǒu）的（de）點到這個麵的距離（lí）代數和等於零， 平均（jun1）表麵是一個兒何概念（niàn）。

        我（wǒ）們通常將基片的（de）一側的表麵（miàn）分子的（de）集合（hé）的平均表麵稱為（wéi）基片（piàn）表麵；薄膜上不和基片接觸的那一側的表麵（miàn）的平均表麵稱為（wéi）薄膜的形狀表麵，將所測量的薄膜原子重新排列，使其密度和大塊狀固體材料完全一樣且均勻的分（fèn）布在基片表麵上，這時平均表（biǎo）麵稱為薄膜（mó）質量等價表麵；根據所測量薄膜的物理性質等效為一種長度和寬度與（yǔ）所測量的薄膜一樣的大塊固體材料的薄膜，這時的平均表麵稱為薄膜物性等價表麵。 形狀膜厚是比較接（jiē）近於直（zhí）觀形式的（de）膜厚， 通常以µm為單（dān）位； 質量膜厚反映了薄膜中包含物質為多少，通常 以 µg/cm#8217;為單位， 物性膜厚在實際使用上較有（yǒu）用， 而且比較容易測量。

         由於實際表麵並不平整，同時薄（báo）膜製作過程中又不（bú）可避免地要有各種（zhǒng）缺陷、 雜質和吸附分子等存在，所以（yǐ）不管用哪 一種方法來定義和（hé）測量膜厚，都是（shì）一個平均值，而且足包括了雜質、缺陷以（yǐ）及（jí）吸附分子在內的薄膜的厚度值。

        真空鍍膜機鍍膜是在真空腔體下（xià）進行鍍膜的，對於測量膜厚度來說，是（shì）需要這方（fāng）麵專（zhuān）業的（de）測量儀才能測（cè）出厚度大小。

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